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        X熒光光譜儀的優勢和劣勢
        發布時間:2017-11-17   點擊次數:3575次
          X熒光光譜儀適用于工廠來料及制程控制中的有害物質檢測,鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cr)、鉻(Cd)、溴(Br)、氯(Cl)控制的利器。無損檢測,可對電子電氣設備,玩具指令中的有害物質進行定性定量分析。
         
          X熒光光譜儀優勢:
         
          a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
         
          b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內,這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
         
          c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。
         
          d) X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
         
          e) 分析精密度高。
         
          f) 制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
         
          X熒光光譜儀劣勢:
         
          a)難于作分析,故定量分析需要標樣。
         
          b)對輕元素檢測的靈敏度要低一些。
         
          c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

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